BLS-I/BCT-400: 优质硅块特征测量仪

不用接触就可以简单准确地测量原生或成型硅块的真实寿命。
与半导体工业标准 PV(光伏)-13相符合。

产品概述

BLS-I and BCT-400 测量系统对于单晶硅或多晶硅(硅锭或硅块)不需要进行表面钝化就可以进行寿命测量。因为寿命测量是描述生长特征和污染缺陷灵敏度最高的技术,这些工具允许你评估硅生长后的质量。如果想要设备能够测量所有的表面类型(150mm直径到平滑的)请选BLS-I. 如果是仅需要测量平滑表面,请选择BCT-400.

系统能力

主要应用:

  • 能够测量寿命在1-5ms (豪秒)范围内的高纯度硅
  • 能够测量没有进行特殊表面处理的原生直拉硅
  • 能够测量多晶硅块的寿命和俘获浓度
其他应用:

  • 探测氧化硼缺陷,铁污染,和表面损害
  • 测试直拉硅,区熔硅,多晶硅或高纯冶金硅 的初始原料质量

更多信息

想要了解产品的主要功能,规格和更多的信息,请下载产品说明书。BLS/BCT product note (PDF – 803k).

获得报价

例1. 对寿命为8毫秒的n型锭进行瞬时测量

例2. 显示P型多晶硅砖底部到顶部寿命的特征多变性。每次测量都会有俘获和电阻文件(未在此显示)