WCT-120TS 系统功能
初步应用:
在大温度范围内测量硅晶片中载流子复合寿命。
其他应用程序:
- 监测初始材料质量
- 晶片加工过程中检测重金属杂质
- 评估表面钝化和发射极掺杂扩散
- 使用隐含V测量评估过程引起的分流
更多信息
想要了解产品的主要功能,规格和更多的信息,请下载产品说明书。WCT-120TS product note (PDF – 563k).
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