Suns-Voc MX: 扩散后工艺控制

Suns-Voc MX 是一款适用于浆料烧结工艺优化和控制的理想测试平台。开路法的测试结果指明了扩散工艺之后任何电池半成品的性能上限。

产品概述

Suns-Voc MX测试台可作为 WCT-120 寿命测试仪的附件，也可作为独立的测试系统购买

Suns-Voc MX 应用

可以通过直接探测 p+ 和 n+ 区域，或探测金属化层（如果有）来测量光照强度-开路电压曲线。该曲线可显示成我们熟知的 Suns-Voc 曲线，或以标准光伏曲线的形式呈现，可以借此对并联电阻进行表征。整条曲线数据是在开路条件下测量获得，因此不受串联电阻的影响。将该曲线与最终的 I-V 曲线进行比较，可以准确获得电池中的串联电阻。

Suns-Voc MX 系统特征

  • 样品台温度控制在25°C
  • 针管式电压探针
  • 包含升级的3 种配置的磁性探针
  • 氙气闪光灯，并配有中性密度滤光片
  • 可通过调节支柱高度，对光照范围进行微调
  • 显示标准I-V 曲线和Suns-Voc 曲线
  • 测量硅片不受串联电阻的影响时的理想特性、有效寿命特征曲线，和衬底掺杂
  • 选配订制的IBC样品台

更多信息

请下载Suns-Voc MX产品说明书以获取产品的主要功能、规格和其他信息。Suns-Voc product note (PDF – 558k).

获得报价

以光照 I-V 曲线形式呈现的 Suns-Voc 数据。