WCT-120 – 离线晶片寿命测量

晶片测量仪器提供最佳的载流子重组寿命校准分析。完全兼容半标准PV-13。

产品概述

WCT仪器展示我们独特的测量和分析技术,包括半标准准稳态光电导系数(QSSPC)测量方法,该方法由Sinton公司在1994年研发。

QSSPC技术对于监测多晶硅硅片,掺杂剂的扩散,和低寿命样本是理想的技术。这种方法补充了瞬态光电导技术的运用。瞬态光电导技术在这台设备上也是标准的。

QSSPC寿命测量也产生隐含的开路电压(与Illumination)曲线,这可以与an1-v曲线在太阳能电池过程的各个阶段进行比较。

Sinton设备的分析能为每个晶片产生校准载流子注入水平,所以你可以以一个物理上精准的方式解读寿命数据。每次测量都会显示和记录特定的参数。

WCT 系统功能

初步应用:
一个制造过程的逐步监测和优化

其他应用程序:

  • 监测初始材料质量
  • 晶片加工过程中检测重金属杂质
  • 评估表面钝化和发射极掺杂扩散
  • 使用隐含V测量评估过程引起的分流

更多信息

想要了解产品的主要功能,规格和更多的信息,请下载产品说明书。 WCT-120 product note (PDF – 563k).

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Sinton设备的分析能为每个晶片产生校准载流子注入水平,所以你可以以一个物理上精准的方式解读寿命数据。每次测量都会显示和记录特定的参数。