晶片测量仪器提供最佳的载流子重组寿命校准分析。完全兼容半标准PV-13。
产品概述
WCT仪器展示我们独特的测量和分析技术,包括半标准准稳态光电导系数(QSSPC)测量方法,该方法由Sinton公司在1994年研发。
QSSPC技术对于监测多晶硅硅片,掺杂剂的扩散,和低寿命样本是理想的技术。这种方法补充了瞬态光电导技术的运用。瞬态光电导技术在这台设备上也是标准的。
QSSPC寿命测量也产生隐含的开路电压(与Illumination)曲线,这可以与an1-v曲线在太阳能电池过程的各个阶段进行比较。
Sinton设备的分析能为每个晶片产生校准载流子注入水平,所以你可以以一个物理上精准的方式解读寿命数据。每次测量都会显示和记录特定的参数。
WCT 系统功能
初步应用:
一个制造过程的逐步监测和优化
其他应用程序:
- 监测初始材料质量
- 晶片加工过程中检测重金属杂质
- 评估表面钝化和发射极掺杂扩散
- 使用隐含V测量评估过程引起的分流
更多信息
想要了解产品的主要功能,规格和更多的信息,请下载产品说明书。 WCT-120 product note (PDF – 563k).
获得报价